- 题名/责任者:
- J2EE性能测试/(美) Peter Zadrozny, Philip Aston, Ted Osborne著 张文耀, 叶茂盛, 陈爱国译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2003
- ISBN及定价:
- 7-5053-8598-4/CNY39.00
- 载体形态项:
- 342页:图;26cm
- 丛编项:
- 国外IT精品丛书
- 个人责任者:
- 阿斯顿 P. (Aston, Philip) 著
- 个人责任者:
- 奥斯本 T. (Osborne, Ted) 著
- 个人责任者:
- 扎德罗兹尼 P. (Zadrozny, Peter) 著
- 个人次要责任者:
- 叶茂盛 译
- 个人次要责任者:
- 陈爱国 译
- 个人次要责任者:
- 张文耀 译
- 学科主题:
- 程序语言
- 中图法分类号:
- TP312
- 出版发行附注:
- Expert公司授权电子工业出版社及北京美迪亚电子信息有限公司出版
- 连接字段附注:
- 本书据Expert公司出版的2002年英文版译出
- 责任者附注:
- 责任者Aston规范汉译姓: 阿斯顿
- 责任者附注:
- 责任者Osborne规范汉译姓: 奥斯本
- 责任者附注:
- 责任者Zadrozny规范汉译姓: 扎德罗兹尼
- 随书光盘:
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
TP312/757 | 00638531 | 东7层1区 | 可借 | |
TP312/757 | 00638532 | 东7层1区 | 可借 | |
TP312/757 | 00638529 | (东)下架室 | 分馆藏书 | |
TP312/757 | 00638530 | (东)下架室 | 分馆藏书 |
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