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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：49

题名/责任者:
分析晶体缺陷的电子显微术/(美)M.H.洛雷托, R.E.斯莫尔曼著 康振川,王桂金译
出版发行项:
上海:上海科学技术出版社,1979
ISBN及定价:
/CNY0.46
载体形态项:
111页:图;20cm
个人责任者:
斯莫尔曼 R.E. 著
个人责任者:
洛雷托 M.H. 著
个人次要责任者:
王桂金 译
个人次要责任者:
康振川 译
学科主题:
电子显微术
中图法分类号:
O77
一般附注:
附录
书目附注:
书目: 第111页
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
O77/1 102227   西区密排2区      可借
O77/1 102228   (西)三层(下架)      可借
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