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题名/责任者:

CMOS数字集成电路:分析与设计/(美) Sung-Mo Kang, (瑞士) Yusuf Leblebici, (韩) Chulwoo Kim著 王志功, 窦建华等译

版本说明:

第2版

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-121-42722-0/CNY119.00

载体形态项:

14, 472页, [8] 页图版:图 (部分彩图);26cm

统一题名:

CMOS digital integrated circuits : analysis and design

丛编项:

国外电子与通信教材系列

个人责任者:

康松默 (Kang, Sung-Mo), 1945- 著

个人责任者:

莱布莱比吉 (Leblebici, Yusuf) 著

个人责任者:

金哲佑 (Kim, Chulwoo) 著

个人次要责任者:

王志功 译

个人次要责任者:

窦建华 译

学科主题:

CMOS电路-电路分析-高等学校-教材

学科主题:

CMOS电路-电路设计-高等学校-教材

中图法分类号:

TN431.2

版本附注:

据原书第4版译出

出版发行附注:

由麦格劳－希尔教育出版公司和电子工业出版社合作出版 限中国大陆发行

责任者附注:

责任者Kang Sung-Mo汉译姓名: 康松默取自在版编目 ; 责任者Leblebici汉译姓: 莱布莱比吉取自在版编目 ; 责任者Kim Chulwoo汉译姓名: 金哲佑取自在版编目

书目附注:

有书目 (第468-472页)

提要文摘附注:

本书共15章，第1-8章讨论M0S晶体管的相关特性和工作原理、基本反相器电路设计、组合逻辑电路及时序逻辑电路的结构与工作原理；第9-13章主要介绍应用于先进VLSI芯片设计的动态逻辑电路、先进的半导体存储电路、低功耗CMOS逻辑电路、数字运算和转换电路、芯片的I/O设计；第14-15章分别讨论电路的产品化设计和可测试性设计这两个重要问题。详细讲述了CMOS数字集成电路的相关内容。

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