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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：63

题名/责任者:
用荧光分析法检验精微零件的表面油污/孙惠中著
出版发行项:
北京:国防工业出版社,1965
ISBN及定价:
/CNY0.09
载体形态项:
10页:图表;21cm
丛编项:
国防工业技术丛刊;48
个人责任者:
孙惠中 著
学科主题:
金属表面保护-表面精整-荧光分析
中图法分类号:
TG176
一般附注:
内部资料
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TG176/5 01370180   (东)下架室      分馆藏书
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