MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：72
- 题名/责任者:
- 混合信号集成电路测试与测量/(美) Mark Burns, Gordon W. Roberts等著 冯建华, 肖钢等译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2009
- ISBN及定价:
- 978-7-121-08293-1/CNY69.00
- 载体形态项:
- 15, 531页:图;26cm
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 罗伯茨 (Roberts, Gordon W., 1959-) 著
- 个人责任者:
- 伯恩斯 (Burns, Mark, 1962-) 著
- 个人次要责任者:
- 肖钢 译
- 个人次要责任者:
- 冯建华 译
- 学科主题:
- 混合信号集成电路-测试技术-教材
- 中图法分类号:
- TN450.7
- 出版发行附注:
- 本书中文简体版专有出版权由美国Oxford University Press授权电子工业出版社。
- 责任者附注:
- 责任者Burns规范汉译姓: 伯恩斯 ;责任者Roberts规范汉译姓: 罗伯茨
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书围绕模拟与混合信号电路的测试，包括许多示例，覆盖数字电路测试，但并不是全面的，因为关于数字测试已经有了大量的资料。示例和图表由现代先进工业技术浓缩而成，全书表达生动。在考虑这种技术的应用中，介绍了大规模混合信号电路和各种电路的测试。清楚地讨论了混合信号IC测试给产品的附加利益，以及清楚地定义了测试工程师的作用。
- 随书光盘:
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN450.7/1 | 00949808 |  东3层4区
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可借 | |
| TN450.7/1 | 00949809 | 东3层4区
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可借 |
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