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MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：56

题名/责任者:
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium proceedings 1981, Las Vegas, Nev., Sept. 22-24, 1981 / sponsored by IIT Research Institute.
出版发行项:
Griffiss AFB, N.Y. : Reliability Analysis Center, c1982.
载体形态项:
v. 260 p. : ill. ; 28 cm.
会议名称:
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (1981 : Las Vegas, Nev.)
附加团体名称:
EOS/ESD Association.
附加团体名称:
IIT Research Institute.
附加团体名称:
Reliability Analysis Center (U.S.)
论题主题:
Electrostatics-Congresses
论题主题:
Electronic apparatus and appliances-Protection-Congresses.
论题主题:
Electric discharges-Congresses.
中图法分类号:
TM86-53
书目附注:
Includes bibliographical references.
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TM86-53/EOE/(1981) E0274863   东5层4区      可借
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