| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：72

题名/责任者:
Microstructural characterization of materials / David Brandon and Wayne D. Kaplan.
版本说明:
2nd ed.
出版发行项:
Chichester, England : John Wiley, c2008.
ISBN:
9780470027844 (cloth)
ISBN:
9780470027851 (paper) :
载体形态项:
xiv, 536 p. : ill. (some col.) ; 25 cm.
丛编说明:
Quantitative software engineering series
个人责任者:
Brandon, D. G.
附加个人名称:
Kaplan, Wayne D.
论题主题:
Materials-Microscopy.
论题主题:
Microstructure.
中图法分类号:
TB303
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TB303/BDG/(2)/ED-11 W0092642   (东)四层西文书刊      借出-应还日期：2019-10-23
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架