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MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:65

题名/责任者:
Scanning electron microscopy 1979 : an international review of advances in techniques and applications of the scanningelectron microscopy / edited by Om Johari.
出版发行项:
Chicago : Scanning Electron Microscopy, Inc., 1979.
ISBN:
0931288053 :
ISBN:
0931288010 :
ISBN:
0931288061 :
载体形态项:
3 v. : ill. ; 29 cm.
附加个人名称:
Johari, Om.
中图法分类号:
TN153-53
书目附注:
Includes bibliographies.
内容附注:
v. 1. -- 598 p. -- v. 2. -- 910 p. -- v. 3. -- 1000 p.
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN153-53/JO/(1979) 137461   西区4层      可借
TN153-53/JO/(1979) 137465  v 西区4层      可借
TN153-53/JO/(1979) 137469  v 西区4层      可借
TN153-53/JO/(1979)/V.3 W0107722  v.3 东5层4区      非可借
TN153-53/JO/(1979)/V.2 W0107721  v.2 东5层4区      非可借
TN153-53/JO/(1979)/V.1 W0107720  v.1 东5层4区      非可借
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