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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：58

题名/责任者:
超大规模集成电路测试/雷绍充, 邵志标, 梁峰编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2008
ISBN及定价:
978-7-121-06307-7/CNY45.00
载体形态项:
319页:图;26cm
个人责任者:
邵志标 编著
个人责任者:
梁峰 编著
个人责任者:
雷绍充 编著
学科主题:
超大规模集成电路-电路测试
中图法分类号:
TN470.7
书目附注:
有书目 (第318-319页)
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN470.7/1 00945541   东3层4区      可借
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