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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：41

题名/责任者:
电子元器件的可靠性/李哲 ... [等] 编著
出版发行项:
天津:天津大学出版社,1991
ISBN及定价:
7-5618-0258-7/CNY3.95
载体形态项:
136页:图;26cm
个人责任者:
李哲 编著
学科主题:
电子产品可靠性
中图法分类号:
TN606
书目附注:
有书目 (第136页)
提要文摘附注:
本书内容有：可靠性概述及其主要数量特征；可靠性试验；寿命试验、加速寿命试验及数据处理；抽样检查等。
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN606/1 E0026057   东6层4区      可借
TN606/1 E0026058   东6层4区      可借
TN606/1 E0178033   东6层4区      可借
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