MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:48
- 题名/责任者:
- 半导体器件可靠性/<<半导体器件可靠性>>编写组编
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,1978
- ISBN及定价:
- /CNY0.94
- 载体形态项:
- 372页:图;19cm
- 团体责任者:
- <<半导体器件可靠性>>编写组 编
- 学科主题:
- 半导体技术-可靠性试验
- 中图法分类号:
- TN306
- 一般附注:
- 附录
- 随书光盘:
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
TN306/1 | 034096 | 西区密排2区 | 可借 | |
TN306/1 | 01264224 | (东)下架室 | 分馆藏书 | |
TN306/1 | 034124 | (西)三层(下架) | 剔旧报废 |
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