| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：42

题名/责任者:
X-ray diffraction topography / by B. K. Tanner.
出版发行项:
New York : Pergamon Press, 1976.
ISBN:
0080196926
载体形态项:
xiii, 174 p. ; 26 cm.
丛编说明:
International series in the science of the solid state ; v. 10
丛编说明:
Pergamon international library
个人责任者:
Tanner, Brian Keith
论题主题:
X-ray crystallography.
中图法分类号:
O721
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
O721/TBK W0101024 1976.  东5层4区      非可借
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架