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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：63

题名/责任者:
微波检测/周在杞编著
出版发行项:
北京:国防工业出版社,1986
载体形态项:
130页:图;19cm
丛编项:
无损检测技术丛书
个人责任者:
周在杞 编著
学科主题:
微波无损检验
中图法分类号:
TG115.28
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TG115.28/3 E0093828   东6层3区      可借
TG115.28/3 E0166038   东6层3区      可借
TG115.28/3 E0093827   (东)四层(405)中文闭架库      可借
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