- 题名/责任者:
- 专利测度与评价指标体系研究/叶春明, 刘长平著
- 出版发行项:
- 北京:知识产权出版社,2013
- ISBN及定价:
- 978-7-5130-1893-7/CNY35.00
- 载体形态项:
- 231页:图;24cm
- 个人责任者:
- 叶春明 著
- 个人责任者:
- 刘长平 著
- 学科主题:
- 专利-评估-研究-中国
- 中图法分类号:
- G306.3
- 一般附注:
- 本书得到上海市哲学社会科学规划项目“专利测度与评价指标体系研究”(2008BJB36)、上海市知识产权局软科学研究项目“上海知识产权评价指标体系研究”(FZ0603)、上海市一流学科建设项目“管理科学与工程”(S1201YLXK) 资助。
- 书目附注:
- 有书目 (第220-225页)
- 提要文摘附注:
- 本书在对专利测度与专利评价的理论研究基础上，对比分析了发达国家以及我国现有的专利评价指标体系，依据评价指标体系设计原则，结合技术创新的发展趋势，构建出包含区域、高校（研究所）、企业不同层次的专利综合评价指标体系、专利保护水平评价指标体系和基于证券化的专利价值评估指标体系，并利用基于集成各种评价模型的综合评价方法，对选取的不同行业的样本企业或高校进行技术创新与专利评价的实证分析。
- 随书光盘:
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| G306.3/10 | 01181245 |  西区3层
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可借 | |
| G306.3/10 | 01181246 | 东3层2区
|
可借 |
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