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题名/责任者:

光学测量的条纹分析:理论、算法与应用/(墨) 塞尔文, (西) 基罗加, (墨) 帕迪利亚著 杜虎兵 ... [等] 译

出版发行项:

西安:西安交通大学出版社,2020

ISBN及定价:

978-7-5605-9292-3/CNY58.00

载体形态项:

249页:图;26cm

统一题名:

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications

个人责任者:

塞尔文 (Servín, Manuel) 著

个人责任者:

基罗加 (Quiroga, Juan Antonio) 著

个人责任者:

帕迪利亚 (Padilla, José Moisés) 著

个人次要责任者:

杜虎兵 译

个人次要责任者:

尹培丽 译

学科主题:

光学测量

中图法分类号:

TB96

题名责任附注:

题名页题: 杜虎兵, 尹培丽, 张嘉霖, 何周旋译

书目附注:

有书目 (第229-243页) 和索引

提要文摘附注:

本书介绍了现代光学测量技术中有关条纹分析的基本原理、基本方法以及近年来的创新工作。本书阐述的涉及条纹图解调方法对应的光学测量技术包括: 光学干涉法、阴影莫尔法、条纹投影法、光测弹性学、莫尔干涉术、莫尔偏折术、全息干涉法、剪切干涉法、数字全息法、散斑干涉法。本书主要创新: 一是提供了一个采用频率传递函数对相移干涉法进行统一傅里叶表述的统一的理论框架; 二是应用随机过程研究相移算法的信噪比与传染噪声统计特性的函数关系。本书对大多数通用的空域和时域干涉技术进行了全面分析, 包括傅里叶干涉术、空间相移方法、相位去包裹、自标定相移算法、正则化相位解调算法以及正则化相位跟踪法和异步自校正算法等。

使用对象附注:

本书可供从事相关领域研究、开发、实验工作的科学家、高校教师、工程师和实验技术人员作为参考书使用

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