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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:44

题名/责任者:
软测之魂:核心测试设计精解/肖利琼著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2011
ISBN及定价:
978-7-121-12296-5/CNY49.00
载体形态项:
XVI, 298页:图;24cm
其它题名:
核心测试设计精解
个人责任者:
肖利琼
学科主题:
软件测试
中图法分类号:
TP311.5
书目附注:
有书目 (第297-298页)
提要文摘附注:
本书以测试设计为主线, 其内容包括: 朝阳中的软件测试、找Bug的核心思维与境界、测试设计景观、测试架构的设计、测试需求分析与测试策略制定、聚焦测试方案的设计等。
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TP311.5/194 01016191   西区密排2区      可借
TP311.5/194 01016190   东3层4区      可借
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