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MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：46

题名/责任者:
Hybrid microcircuit reliability data / prepared by IIT Research Institute.
出版发行项:
Oxford ; New York : Pergamon Press, 1976.
ISBN:
0080205356
载体形态项:
208 p. ; 27 cm.
附加团体名称:
IIT Research Institute.
论题主题:
Hybrid integrated circuits-Reliability.
中图法分类号:
Tn45
中图法分类号:
TN45
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN45/HMR W0102935 1976.  东5层4区      非可借
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