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- 题名/责任者:
- 半导体器件的可靠性.第三集/中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
- 出版发行项:
- 重庆:科学技术文献出版社重庆分社,1977
- ISBN及定价:
- /CNY1.15
- 载体形态项:
- 173页;26cm
- 团体责任者:
- 中国科学技术情报研究所重庆分所 编辑
- 学科主题:
- 半导体技术-可靠性试验-文集
- 中图法分类号:
- TN306-53
- 随书光盘:
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN306-53/1/V.3 | 01352111 | v.3 |  (东)下架室
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分馆藏书 |
| TN306-53/1/V.3 | 01352112 | v.3 | (东)下架室
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分馆藏书 |
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