| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：84

题名/责任者:
微分析物理及其应用/丁泽军 ... [等] 编著
出版发行项:
合肥:中国科学技术大学出版社,2009
ISBN及定价:
978-7-312-02290-6/CNY38.00
载体形态项:
369页:图;24cm
个人责任者:
吴自勤 编著
个人责任者:
孙霞 编著
个人责任者:
丁泽军 编著
学科主题:
电子显微镜分析
中图法分类号:
O657.99
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书内容包括：电子显微学和电子束微分析、扫描探针显微术，以及和电子束微分析关联较多的表面分析、离子束微分析和X射线束微分析等。
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
O657.99/10 00988654   西区密排2区      可借
O657.99/10 00988653   东3层3区      可借
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架