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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：35

题名/责任者:
半导体器件的可靠性.第四集/中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
出版发行项:
重庆:科学技术文献出版社重庆分社,1977
载体形态项:
99页;26cm
团体责任者:
中国科学技术情报研究所 重庆分所 编辑
学科主题:
半导体技术-可靠性试验
中图法分类号:
TN306-53
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN306-53/1/V.4 01352103  v.4 (东)下架室      分馆藏书
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