MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：20
- 题名/责任者:
- 精密纳米计量学:用于纳米制造的传感器和测量系统/(日) Wei Gao著 李雷 ... 等译
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-118-12466-8 精装/CNY98.00
- 载体形态项:
- 11, 243页:图;25cm
- 其它题名:
- 用于纳米制造的传感器和测量系统
- 丛编项:
- 军事计量科技译丛
- 个人责任者:
- 高伟 著
- 个人次要责任者:
- 李雷 译
- 个人次要责任者:
- 赵昭 译
- 个人次要责任者:
- 张慧 译
- 学科主题:
- 纳米技术-应用-计量学-研究
- 中图法分类号:
- TB9
- 一般附注:
- 装备科技译著出版基金
- 题名责任附注:
- 题名页其余译者: 赵昭, 张慧, 王文娟等
- 出版发行附注:
- 由Springer出版社授权出版
- 责任者附注:
- 著者汉译姓取自版权页: 高伟
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了精密纳米计量学的相关知识, 重点讲述了精密纳米制造中测量角度和位移的光学传感器, 提出了改善传感器灵敏度和带宽, 减小传感器尺寸的技术, 并开发了新的多轴传感方法 ; 同时, 介绍了精密纳米计量中用于表面形状和平台运动的扫描型测量系统, 阐述了纳米制造中最基本的几何形状的测量误差分离算法和系统 ; 最后对微观非球面的测量, 纳米制造中微纳结构的精密纳米计量, 以及长结构的微观尺寸的快速、准确测量等进行了介绍。
- 随书光盘:
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