MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：42
- 题名/责任者:
- 数字集成电路参数的测量/(苏)Д. Ю. 埃杜卡斯等编著 张 伦译
- 出版发行项:
- 北京:人民邮电出版社,1988
- ISBN及定价:
- 7-115-03469-9/CNY2.75
- 载体形态项:
- 345页;21cm
- 个人责任者:
- 埃杜卡斯 (Ейдукас, Д. Ю.) 编著
- 个人责任者:
- 张伦 (数字集成电路) 译
- 学科主题:
- 数字集成电路-参数-测量
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 一般附注:
- 根据М:радио и связь1982年英文版译出.
- 一般附注:
- 译自: Измерение параметров цифровых интегральных микросхем／Д. Ю. Зйдукас
- 提要文摘附注:
- 介绍集成电路的静态参数和动态参数及其测量方法、功能检验、静态参数检测设备、动态参数检测设备、功能检验设备、检验系统的程序保证及检测集成电路的生产体系等。
- 随书光盘:
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN431.2/39 | 01333231 |  (东)下架室
|
分馆藏书 | |
| TN431.2/39 | 01333232 | (东)下架室
|
分馆藏书 |
显示全部馆藏信息