MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：56
- 题名/责任者:
- 材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析/周玉，武高辉编著
- 出版发行项:
- 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,1998
- ISBN及定价:
- 7-5603-1338-8/CNY19.80
- 载体形态项:
- 283页:图;26cm
- 其它题名:
- 材料X射线衍射与电子显微分析
- 丛编项:
- 材料科学与工程丛书
- 个人责任者:
- 武高辉 编著
- 个人责任者:
- 周玉 编著
- 学科主题:
- 金属材料-高等学校-教材
- 学科主题:
- 金属材料-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TG115.21
- 中图法分类号:
- TG115.23
- 科图法分类号:
- 75.228
- 书目附注:
- 有书目(第253-254页)
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。
- 随书光盘:
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TG115.23/1 | E0037027 |  东3层4区
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可借 | |
| TG115.23/1 | E0037028 | 东3层4区
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可借 | |
| TG115.23/1 | E0037029 | 东3层4区
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可借 | |
| TG115.23/1 | E0037030 | 东3层4区
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可借 | |
| TG115.23/1 | E0037031 | 东3层4区
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可借 | |
| TG115.23/1 | E0098460 | 东3层4区
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保留本 |
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