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MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:65

题名/责任者:
Testing for the 80's : digest of papers, 1981 Test Conference, Oct. 27, 28, 29, 1981 / sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Committee [and] Philadelphia Section of the IEEE.
出版发行项:
New York, N.Y. : Institute of Electrical and Electronics Engineers ; Long Beach, Calif. : available from IEEE Computer Society Publications Office, c1981.
载体形态项:
xxiv, 568 p. : ill. ; 28 cm.
会议名称:
Test Conference (12nd : 1981 : Philadelphia, Pa.)
附加团体名称:
IEEE Computer Society. Test Technology Committee.
附加团体名称:
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.
论题主题:
Integrated circuits-Testing-Congresses.
中图法分类号:
TM93-53
一般附注:
"81CH1693-1."
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TM93-53/TC/(1981) E0274739  1981 东5层4区      可借
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