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MARC状态:已编 文献类型:西文期刊 浏览次数:362

题名/责任者:
Microelectronics and reliability.
出版发行项:
Oxford ; New York : Pergamon Press, c1964-
ISSN:
0026-2714
载体形态项:
v. : ill. ; 26-27cm.
起止卷期:
Vol 3, no. 1 (June 1964)-
先前出版物:
Electronics reliability & microminiaturization
论题主题:
Miniature electronic equipment-Periodicals.
论题主题:
Electronic apparatus and appliances-Reliability-Periodicals.
中图法分类号:
TN4
出版周期:
15 no. a year, <Jan. 1993->
先前出版周期:
Quarterly, 1964-1969
先前出版周期:
Bimonthly, 1970-
一般附注:
Title from cover.
引文/参考附注:
ISMEC bulletin 0306-0039
引文/参考附注:
International aerospace abstracts 0020-5842
引文/参考附注:
Excerpta medica
引文/参考附注:
Engineering index monthly (1984) 0742-1974
引文/参考附注:
Engineering index energy abstracts 0093-8408
引文/参考附注:
Engineering index bioengineering abstracts 0736-6213
引文/参考附注:
Engineering index annual (1968) 0360-8557
引文/参考附注:
Electronics and communications abstracts journal (Riverdale) 0361-3313
引文/参考附注:
Chemical abstracts 0009-2258
引文/参考附注:
Physics abstracts 0036-8091 1968-
引文/参考附注:
Electrical & electronics abstracts 0036-8105 1968-
引文/参考附注:
Computer & control abstracts 0036-8113 1968-
引文/参考附注:
Safety science abstracts journal 0160-1342
引文/参考附注:
Pollution abstracts with indexes 0032-3624
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN4/MR K0041582  Vol.13 No.1-6 1983 东5层2区      非可借
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