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MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:64

题名/责任者:
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium proceedings 1980, San Diego, Calif., Sept. 9-11, 1980 / sponsored by IIT Research Institute.
出版发行项:
Griffiss AFB, N.Y. : Reliability Analysis Center, c1981.
载体形态项:
v, 248 p. : ill. ; 28 cm.
会议名称:
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (1980 : San Diego, Calif.)
附加团体名称:
EOS/ESD Association.
附加团体名称:
IIT Research Institute.
附加团体名称:
Reliability Analysis Center (U.S.)
论题主题:
Electrostatics-Congresses
论题主题:
Electronic apparatus and appliances-Protection-Congresses.
论题主题:
Electric discharges-Congresses.
中图法分类号:
TM86-53
一般附注:
At head of title: Reliability Analysis Center.
书目附注:
Includes bibliographical references.
引文/参考附注:
Engineering index monthly (1984) 0742-1974
引文/参考附注:
Engineering index annual (1968) 0360-8557
引文/参考附注:
Engineering index bioengineering abstracts 0736-6213
引文/参考附注:
Engineering index energy abstracts 0093-8408
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TM86-53/EOE/(1980) E0274864   东5层4区      可借
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