| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：39

题名/责任者:
可靠性与可测性分析设计/丁瑾编著
出版发行项:
北京:北京邮电大学出版社,1996
ISBN及定价:
7-5635-0245-9/CNY17.80
载体形态项:
211页:图;26cm
个人责任者:
丁瑾, 1964- 编著
学科主题:
可靠性设计-数字电路
学科主题:
数字电路-可靠性设计
中图法分类号:
TN79
中图法分类号:
TN702
一般附注:
博士后基金资助项目
书目附注:
有书目 (第207-211页)
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN702/9 E0026402   东6层4区      可借
TN702/9 E0110137   东6层4区      保留本
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架