| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:73

题名/责任者:
扫描电子显微技术与X 射线显微分析/(美)J.I.戈尔茨坦著 张大同译
出版发行项:
北京:科学出版社,1988.08
ISBN及定价:
7-03-000468-X/CNY15.40
载体形态项:
454 页:有图;26cm
编目员补充题名:
电子
编目员补充题名:
显微
编目员补充题名:
技术
编目员补充题名:
X射线
编目员补充题名:
显微
编目员补充题名:
分析
编目员补充题名:
扫描
个人责任者:
戈尔茨坦 (Goldstein,J.I.)
个人次要责任者:
张大同
学科主题:
显微技术-X射线
中图法分类号:
TN153
一般附注:
有附录
随书光盘:
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN153/10 009475   西区密排2区      可借
TN153/10 033903   西区密排2区      可借
TN153/10 033907   (西)三层(下架)      可借
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架