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中文图书1.MEMS可靠性 TN4/20
馆藏复本:2
可借复本:2 (美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著
电子工业出版社 2012
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中文图书2.电子信息技术的理论与应用:中国电子学会第十四届青年学术年会论文集 TN01-53/2
馆藏复本:2
可借复本:2 孔学东, 恩云飞, 黄云主编
国防工业出版社 2009
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中文图书3.电子元器件失效分析与典型案例 TN601/2
馆藏复本:2
可借复本:2 孔学东, 恩云飞主编
国防工业出版社 2006
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