| 暂存书架(0) | 登录

检索到 3 条 责任者=恩云飞 的结果    

 


所有图书 可借图书

  1. 中文图书1.MEMS可靠性 TN4/20

    馆藏复本:2
    可借复本:2
    (美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著
    电子工业出版社 2012
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.电子信息技术的理论与应用:中国电子学会第十四届青年学术年会论文集 TN01-53/2

    馆藏复本:2
    可借复本:2
    孔学东, 恩云飞, 黄云主编
    国防工业出版社 2009
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.电子元器件失效分析与典型案例 TN601/2

    馆藏复本:2
    可借复本:2
    孔学东, 恩云飞主编
    国防工业出版社 2006
    (0) 馆藏


返回顶部