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中文图书1.电子微组装可靠性设计,应用篇 TN605/7/V.2
馆藏复本:2
可借复本:2 何小琦, 恩云飞, 周斌编著
电子工业出版社 2022
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中文图书2.电子元器件检验技术,试验部分 TN606/10/V.1
馆藏复本:2
可借复本:2 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2019
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馆藏复本:2
可借复本:2 何小琦, 恩云飞, 周斌编著
电子工业出版社 2022
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馆藏复本:2
可借复本:2 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2019
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