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中文图书1.微电子概论.第2版 TN4/27(2)
馆藏复本:2
可借复本:2 郝跃 ... [等] 编著
电子工业出版社 2011
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中文图书2.微纳米MOS器件可靠性与失效机理 TN4/45
馆藏复本:2
可借复本:2 郝跃, 刘红侠著
科学出版社 2008
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中文图书3.微电子概论 TN4/27
馆藏复本:1
可借复本:1 郝跃, 贾新章, 吴玉广编著
高等教育出版社 2003
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