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检索到 2 条 责任者=Bowen, D. Keith 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, x-ray and ion beams / TB302.1/BDK

    馆藏复本：2
    可借复本：0     D.K. Bowen, C.R. Hall.
    MacMillan, 1975.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study... O78-53/NAT/(1979)

    馆藏复本：1
    可借复本：0     edited by Brian K. Tanner and D. Keith Bowen.
    Plenum Press, c1980.
    (0) 馆藏

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