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检索到 2 条 责任者=Runyan, W. R. 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Semiconductor measurements and instrumentation / TN304.07/RWR

    馆藏复本：1
    可借复本：0     W. R. Runyan.
    McGraw-Hill, [1975].
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Semiconductor measurements and instrumentation / 2nd ed. TN304.07/RWR/(2)

    馆藏复本：1
    可借复本：1     W. R. Runyan and T. J. Shaffner.
    McGraw-Hill, c1998.
    (0) 馆藏

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