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  1. 西文图书1.Testability of VLSI leakage faults in CMOS / TN47/MYK

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Yashwant K.Malalya and Stephen Y.H.Su ; State University of New York at Binghamton.
    Rome Air Development Center], 1983.
    (0) 馆藏

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