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检索到 31 条 分类号=TN06 的结果    

 


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  1. 中文图书1.失效物理基础 TN06/15

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    (日)盐见弘著
    科学出版社 1982
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Electronic equipment reliability / TN06/CJC

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    J.C. Cluley.
    Macmillan,   1974.
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.环境试验用相对湿度调查表 TN06/14

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    本书编写组编写
    不详 1986
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.可靠性基础数学 TN06/1

    馆藏复本:6
    可借复本:1
    (日)高木厚主编
    国防工业出版社 1977
    (0) 馆藏

  5. 中文图书5.可靠性技术:试验与分析 TN06/4

    馆藏复本:3
    可借复本:2
    (日)高木 主编
    国防工业出版社 1983
    (0) 馆藏

  6. 中文图书6.电子仪器的可靠性 TN06/13

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    (英)J. C. 克拉利著
    重庆出版社 1987
    (0) 馆藏

  7. 中文图书7.无线电电子设备的可靠性 TN06/10

    馆藏复本:3
    可借复本:2
    (苏)索林,Я.М.著
    国防工业出版社 1964
    (0) 馆藏

  8. 中文图书8.可靠性与维修性工程:系统与电路结构的分析和设计 TN06/6

    馆藏复本:7
    可借复本:2
    丁定浩编著
    电子工业出版社 1986
    (0) 馆藏

  9. 中文图书9.可靠性试验用表 TN06-64/1

    馆藏复本:3
    可借复本:2
    第四机械工业部标准化研究所编
    国防工业出版社 1979
    (0) 馆藏

  10. 中文图书10.常用无线电检测技术 TN06/8

    馆藏复本:4
    可借复本:3
    (美) 小罗伯特C·甄因著
    电子工业出版社 1988
    (0) 馆藏

  11. 中文图书11.环境试验技术 TN06/12

    馆藏复本:2
    可借复本:2
    王树荣, 季凡渝编著
    电子工业出版社 2016
    (0) 馆藏

  12. 中文图书12.环境试验 TN06/2

    馆藏复本:2
    可借复本:2
    工业和信息化部电子第五研究所组编
    电子工业出版社 2015
    (0) 馆藏

  13. 日文图书13.電子技術者の信頼性工学 J/TN06/1

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    三根久編著
    総合電子出版社 1977.6
    (0) 馆藏

  14. 西文图书14.Handbook of electronic test procedures / TN06-62/LJD

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    John D. Lenk.
    Prentice-Hall, c1982.
    (0) 馆藏

  15. 西文图书15.ISTFA 1984 : proceedings : International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1984, 22-24 Oct TN06-53/IST/(1984)

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    International Symposium for Testing and Failure Analysis
    ATFA, c1984.
    (0) 馆藏

  16. 西文图书16.Electronic equipment reliability / 2nd ed. TN06/CJC/(2)

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    J. C. Cluley.
    Macmillan, 1981.
    (0) 馆藏

  17. 西文图书17.Reliability & maintainability of electronic systems / TN06/RME

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    edited by J.E. Arsenault and J.A. Roberts.
    Pitman, 1980.
    (0) 馆藏

  18. 西文图书18.ISTFA 1985 : proceedings : International Symposium for Testing and Failure Analysis, 1985, 21-23 Oct TN06-53/IST/(1985)

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    International Symposium for Testing and Failure Analysis
    ATFA, c1985.
    (0) 馆藏

  19. 西文图书19.Electronic test equipment projects / TN06-62/AAC

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    Alan C. Ainslie.
    Newnes Technical, 1981.
    (0) 馆藏

  20. 中文图书20.可靠性试验 TB114.3/10

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    何国瑞等编著
    人民邮电出版社 1989.2
    (0) 馆藏

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