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检索到 5 条 分类号=TN3-53 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Digest of papers IEEE 1979 semiconductor test conference. TN3-53/DPI/(1979)

    馆藏复本：2
    可借复本：0     Test technology committee
    S.J., 1979.
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.半导体选集

    馆藏复本：0
    可借复本：0     壮蔚华译
    人民邮电 1957
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.半导体选集 TN3-53/1

    馆藏复本：3
    可借复本：2     人民邮电出版社图书编辑部辑
    人民邮电出版社 1956
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.Proceedings of the transistor reliability symposium / 621.34/T687

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Sponsored by the Working Group on Semiconductor Devices of the Advisory Group on Electron Tubes, Off
    New York University Press, 1958.
    (0) 馆藏

  5. 西文图书5.First Canadian Semiconductor Technology Conference : proceedings, Chateau Laurier hotel, Ottawa, Can TN3-53/CST/(1982)

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Canadian Semiconductor Technology Conference
    National Research Council Canada, [1982?]
    (0) 馆藏

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