检索到 6 条 分类号=TN304.07 的结果
-
西文图书1.Semiconductor measurements and instrumentation / TN304.07/RWR
馆藏复本：1
可借复本：0 W. R. Runyan.
McGraw-Hill, [1975].
(0) 馆藏 -
中文图书2.半导体器件参数测试自动化 TN304.07/2
馆藏复本：1
可借复本：0 (苏) Ю.С.卡尔普主编
国防工业出版社 1966
(0) 馆藏 -
中文图书3.半导体测试技术 TN304.07/3
馆藏复本：1
可借复本：0 孙以材编著
冶金工业出版社 1984
(0) 馆藏 -
西文图书4.Semiconductor measurements and instrumentation / 2nd ed. TN304.07/RWR/(2)
馆藏复本：1
可借复本：1 W. R. Runyan and T. J. Shaffner.
McGraw-Hill, c1998.
(0) 馆藏 -
中文图书5.半导体材料电磁参数的测量 TM93/27
馆藏复本：5
可借复本：4 (美) H. H. Wieder著
计量出版社 1986
(0) 馆藏 -
中文图书6.半导体的检测与分析 TN304.07/1
馆藏复本：3
可借复本：2 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
科学出版社 1984
(0) 馆藏
