检索到 8 条 分类号=TN407 的结果
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中文图书1.固体集成电路开关时间测试 TN407/4
馆藏复本：1
可借复本：0 北京电子管厂仪表研制小组编
机械工业出版社 1971
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中文图书2.微电子测试结构 TN407/2
馆藏复本：4
可借复本：3 孙为编
华东师范大学出版社 1984
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西文图书3.An introduction to mixed-signal IC test and measurement / TN407/BM
馆藏复本：1
可借复本：1 Mark Burns, Gordon W. Roberts.
Oxford University Press, 2001.
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西文图书4.Meeting the tests of time : International Test Conference 1989 proceedings : August 29-31, 1989 : Sh TN407-53/ITC/(1989)
馆藏复本：1
可借复本：1 sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Sec
IEEE Computer Society Press , c1989.
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中文图书5.SystemVerilog验证:测试平台编写指南 TP312/2429
馆藏复本：2
可借复本：2 (美) 克里斯·斯皮尔著
科学出版社 2009
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中文图书6.可测性设计技术 TN407/1
馆藏复本：2
可借复本：2 陈光 , 潘中良编著
电子工业出版社 1997
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中文图书7.怎样用万用电表检测集成电路 TN407/3
馆藏复本：1
可借复本：1 金正, 郑雯, 董福英编著
人民邮电出版社 1995
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中文图书8.用万用表速测集成电路数据大全.第2版 TN407-62/1(2)
馆藏复本：2
可借复本：2 邵祖林, 孙海军, 杨机令等编著
长春出版社 1994
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