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中文图书1.可靠性试验技术.第2版 TB302/8(2)
馆藏复本:2
可借复本:2 王晓红等编著
北京航空航天大学出版社 2022
(0) 馆藏
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中文图书2.半导体器件可靠性 TN306/1
馆藏复本:3
可借复本:1 <<半导体器件可靠性>>编写组编
国防工业出版社 1978
(0) 馆藏
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中文图书3.可靠性试验—概论、部件 TB114/43
馆藏复本:2
可借复本:0 (日)埰见弘等著
机械工业出版社 1988
(0) 馆藏
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中文图书4.半导体器件的可靠性.第四集 TN306-53/1/V.4
馆藏复本:1
可借复本:0 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
(0) 馆藏
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中文图书5.半导体器件的可靠性.第三集 TN306-53/1/V.3
馆藏复本:2
可借复本:0 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
(0) 馆藏
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中文图书6.可靠性试验用表 TN06-64/1
馆藏复本:3
可借复本:2 第四机械工业部标准化研究所编
国防工业出版社 1979
(0) 馆藏
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中文图书7.可靠性试验-环境、设备 TB114/41
馆藏复本:1
可借复本:0 (日)市田嵩著
机械工业出版社 1988
(0) 馆藏
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中文图书8.集成电路可靠性 TN406/1
馆藏复本:1
可借复本:0 上海冶金研究所编译
上海科学技术情报研究所 1972
(0) 馆藏
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中文图书9.可靠性试验技术 TB302/8
馆藏复本:1
可借复本:1 姜同敏 ... [等] 编著
北京航空航天大学出版社 2012
(0) 馆藏
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中文图书10.可靠性试验用表.增订本 TN06-64/1:2
馆藏复本:3
可借复本:3 中国电子技术标准化研究所编著
国防工业出版社 1987
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中文图书11.试验工程:成本有效的设计、研制和制造指南:a concise guide to cost-effective design, development and ma TB114.3/48
馆藏复本:2
可借复本:1 (英) Patrick D. T. O'Connor著
电子工业出版社 2005
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中文图书12.可靠性试验技术 TB114.2/10
馆藏复本:2
可借复本:1 主编何国伟
国防工业出版社 1995
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中文图书13.可靠性试验 TB114.3/10
馆藏复本:2
可借复本:1 何国瑞等编著
人民邮电出版社 1989.2
(0) 馆藏
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中文图书14.可靠性增长 TB114.3/8
馆藏复本:4
可借复本:3 周源泉,翁朝曦著
科学出版社 1992
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