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检索到 14 条 主题词=可靠性试验 的结果    

 


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  1. 中文图书1.可靠性试验技术.第2版 TB302/8(2)

    馆藏复本:2
    可借复本:2
    王晓红等编著
    北京航空航天大学出版社 2022
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.半导体器件可靠性 TN306/1

    馆藏复本:3
    可借复本:1
    <<半导体器件可靠性>>编写组编
    国防工业出版社 1978
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.可靠性试验—概论、部件 TB114/43

    馆藏复本:2
    可借复本:0
    (日)埰见弘等著
    机械工业出版社 1988
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.半导体器件的可靠性.第四集 TN306-53/1/V.4

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
    科学技术文献出版社重庆分社 1977
    (0) 馆藏

  5. 中文图书5.半导体器件的可靠性.第三集 TN306-53/1/V.3

    馆藏复本:2
    可借复本:0
    中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
    科学技术文献出版社重庆分社 1977
    (0) 馆藏

  6. 中文图书6.可靠性试验用表 TN06-64/1

    馆藏复本:3
    可借复本:2
    第四机械工业部标准化研究所编
    国防工业出版社 1979
    (0) 馆藏

  7. 中文图书7.可靠性试验-环境、设备 TB114/41

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    (日)市田嵩著
    机械工业出版社 1988
    (0) 馆藏

  8. 中文图书8.集成电路可靠性 TN406/1

    馆藏复本:1
    可借复本:0
    上海冶金研究所编译
    上海科学技术情报研究所 1972
    (0) 馆藏

  9. 中文图书9.可靠性试验技术 TB302/8

    馆藏复本:1
    可借复本:1
    姜同敏 ... [等] 编著
    北京航空航天大学出版社 2012
    (0) 馆藏

  10. 中文图书10.可靠性试验用表.增订本 TN06-64/1:2

    馆藏复本:3
    可借复本:3
    中国电子技术标准化研究所编著
    国防工业出版社 1987
    (0) 馆藏

  11. 中文图书11.试验工程:成本有效的设计、研制和制造指南:a concise guide to cost-effective design, development and ma TB114.3/48

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    (英) Patrick D. T. O'Connor著
    电子工业出版社 2005
    (0) 馆藏

  12. 中文图书12.可靠性试验技术 TB114.2/10

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    主编何国伟
    国防工业出版社 1995
    (0) 馆藏

  13. 中文图书13.可靠性试验 TB114.3/10

    馆藏复本:2
    可借复本:1
    何国瑞等编著
    人民邮电出版社 1989.2
    (0) 馆藏

  14. 中文图书14.可靠性增长 TB114.3/8

    馆藏复本:4
    可借复本:3
    周源泉,翁朝曦著
    科学出版社 1992
    (0) 馆藏


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