检索到 40 条 题名=半导体器件 的结果
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中文图书1.半导体器件物理.第3版 TN303/31(3)
馆藏复本：2
可借复本：2 主编孟庆巨
科学出版社 2022
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中文图书2.半导体器件及其应用:论文集.第二辑 TN303-53/3/V.2
馆藏复本：4
可借复本：2 (苏) 费多托夫,Я.А.编
科学出版社 1960
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中文图书3.半导体器件及其应用:论文集.第五辑 TN303-53/1/V.5
馆藏复本：5
可借复本：2 (苏) 费多托夫,Я.А.编
科学出版社 1964
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中文图书4.半导体器件的数值分析 TN303/27
馆藏复本：1
可借复本：0 (日) 仓田卫著
电子工业出版社 1985
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中文图书5.半导体器件手册 TN303-62/7
馆藏复本：1
可借复本：0 (苏) 拉弗里宁科, В.Ю.著
中国工业出版社 1964
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中文图书6.半导体器件可靠性 TN306/1
馆藏复本：3
可借复本：1 <<半导体器件可靠性>>编写组编
国防工业出版社 1978
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中文图书7.半导体器件物理与工艺 TN305/7
馆藏复本：2
可借复本：0 (美) A.S.格罗夫著
科学出版社 1976
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中文图书8.半导体器件参数测试自动化 TN304.07/2
馆藏复本：1
可借复本：0 (苏) Ю.С.卡尔普主编
国防工业出版社 1966
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中文图书9.半导体器件的可靠性.第三集 TN306-53/1/V.3
馆藏复本：2
可借复本：0 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书10.半导体器件的可靠性.第四集 TN306-53/1/V.4
馆藏复本：1
可借复本：0 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书11.半导体器件数值分析 TN303/12
馆藏复本：6
可借复本：2 倉田衛著
翻译出版公司 1986
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中文图书12.半导体器件失效分析 TN303/2
馆藏复本：4
可借复本：1 邓永孝著
宇航出版社 1991
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中文图书13.测试 TN307/3
馆藏复本：1
可借复本：0 《半导体器件制造技术丛书》编写组编
国防工业出版社 1972
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中文图书14.半导体器件及其应用:论文集.第四辑 TN303-53/1/V.4
馆藏复本：5
可借复本：2 (苏) 费多托夫,Я.А.编
科学出版社 1962
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中文图书15.硅平面器件工艺基础 TN305/6
馆藏复本：1
可借复本：0 《半导体器件制造技术丛书》编写组编
国防工业出版社 1971
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中文图书16.外延生长技术 TN304.054/1
馆藏复本：1
可借复本：0 《半导体器件制造技术丛书》编写组编
国防工业出版社 1971
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中文图书17.半导体器件及其应用论文集.1 TN303-53/2/V.1
馆藏复本：3
可借复本：2 (苏)费多托夫(Я.А.Федотова)著
科学出版社 1960
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中文图书18.半导体器件参数快速综合测试仪 TN307/4
馆藏复本：1
可借复本：0 罗静成著
人民出版社 1980
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中文图书19.引线封装 TN305.96/1
馆藏复本：2
可借复本：1 《半导体器件制造技术丛书》编写组编
国防工业出版社 1972
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中文图书20.半导体器件 H319.4/2792
馆藏复本：5
可借复本：0 清华大学外语教研组英语读物注释小组编
商务印书馆 1978
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