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检索到 3 条 题名=Semiconductor measurements and instrumentation / 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Semiconductor measurements and instrumentation / TN304.07/RWR

    馆藏复本：1
    可借复本：0     W. R. Runyan.
    McGraw-Hill, [1975].
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Semiconductor measurements and instrumentation / 2nd ed. TN304.07/RWR/(2)

    馆藏复本：1
    可借复本：1     W. R. Runyan and T. J. Shaffner.
    McGraw-Hill, c1998.
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.半导体测量和仪器 TN307/2

    馆藏复本：3
    可借复本：2     (美) 鲁尼安(W.R.Runyan)编著
    上海科学技术出版社 1980
    (0) 馆藏

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