机读格式显示(MARC)

• 000 01110cam0 2200325 450

• 000 0000232299

• 001 0000186723

• 005 20061231100456.0

• 091 __ |a 15119.2034 |d CNY1.15

• 099 __ |a CAL 012000127783

• 100 __ |a 19971114d1980 em y0chiy0121 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 310000

• 105 __ |a y a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体测量和仪器 |A ban dao ti ce liang he yi qi |f (美) 鲁尼安(W.R.Runyan)编著 |g 上海科技大学半导体材料教研室译

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术出版社 |d 1980

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• 510 1_ |a Semiconductor measurements and instrumentation

• 606 0_ |a 半导体器件 |A ban dao ti qi jian |x 测试

• 606 0_ |a 半导体材料 |A ban dao ti cai liao |x 测试

• 690 __ |a TN307 |v 3　

• 701 _1 |a 鲁尼恩 |A Lunien |g (Runyan, Walter R.), |f 1925- |4 编著

• 712 02 |a 上海科学技术大学 |b 半导体材料教研室 |A Shanghai ke xue ji shu da xue |B Ban dao ti cai liao jiao yan shi |4 译

• 801 _2 |a CN |b CAU |c 20061231

• 801 _2 |a CN |b LZT

• 901 __HS2006016435

• 905 __ |a CAU |d TN307/2

• 907 __ |a CAU |f TN307/2

• 999 __ |I wht |i 20061231 10:04:56 |G wyf |g 20070110 10:18:1