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• 200 1_ |a LSI制造与测试 |A LSI Zhi Zao Yu Ce Shi |f 上海市光学仪器工业公司

• 207 _0 |a 1980,no.1(1980)-1981,no.3(1981,10) |a 1982,no.1(1982,2)-1987,no.6(1987) = [总4]-37 |a V.9, no.1(1988)-v.18,no.4/5(1997,11) = 总38-94/95

• 210 __ |a 上海 |c 《LSI制造与测试》编辑部 |d 1980-1997

• 215 __ |a 18v. |d 26cm

• 304 __ |a 1985年起有并列题名:Teh Manufacture and Test for Large Scale Integr-Atea Circuits

• 311 __ |a 继承:《大规模集成电路制造与测试仪器设备译文集》

• 326 __ |a 季刊 |b 1982

• 326 __ |a 半年刊 |b 1980-1981

• 326 __ |a 双月刊 |b 1983-1997

• 430 _0 |1 2001 |a 大规模集成电路制造与测试仪器设备译文集

• 510 1_ |a Teh Manufacture and Test for Large Scale Integr-Atea Circuits |z eng

• 690 __ |a TN4 |v 4

• 711 02 |a 上海市光学仪器工业公司 |A Shang Hai Shi Guang Xue Yi Qi Gong Ye Gong Si

• 801 _0 |a CN |b CAU |c 20060613

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• 905 __ |a CAU |d TN4

• 907 __ |a CAU |f TN4 |y 1985-1989

• 999 __ |M syj |m 20090317 09:30:5