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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 分析晶体缺陷的电子显微术 |A Fen Xi Jing Ti Que Xian De Dian Zi Xian Wei Shu |f (美)M.H.洛雷托, R.E.斯莫尔曼著 |g 康振川,王桂金译

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术出版社 |d 1979

• 215 __ |a 111页 |c 图 |d 20cm

• 300 __ |a 附录

• 320 __ |a 书目: 第111页

• 606 0_ |a 电子显微术 |A Dian Zi Xian Wei Shu

• 690 __ |a O77 |v 2

• 701 _1 |a 斯莫尔曼 |A Si Mo Er Man |b R.E. |4 著

• 701 _1 |a 洛雷托 |A Luo Lei Tuo |b M.H. |4 著

• 702 _0 |a 王桂金 |A Wang Gui Jin |4 译

• 702 _0 |a 康振川 |A Kang Zhen Chuan |4 译

• 801 _0 |a CN |b BAU |c 19931122

• 901 __0193014412

• 905 __ |a CAU |d O77/1

• 907 __ |a BAU |d O77 |e 1 |f O77/1 |b 434296-8

• 915 __ |a BAU |b yang |c yang |d yang |e zhu

• 986 __ |a 102230 |b 三层 |d 0.5 |f |h 434296 |j O77/1 |s |a 102227 |b 三层 |d 0.5 |f |h 434297 |j O77/1 |s |a 102228 |b 三层 |d 0.5 |f |h 434298 |j O77/1 |s