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• 000 01217nam 22004093 45

• 000 0000035405

• 001 0000035113

• 002 已正确合并

• 005 19980830173352.0

• 010 __ |d ￥3.10

• 091 __ |a CN |b 15031·837

• 100 __ |a 19931220d1987 km y0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 高空间分辨分析电子显微学 |A Gao Kong Jian Fen Bian Fen Xi Dian Zi Xian Wei Xue |f 朱静等编著 |F Zhu Jing Deng Bian Zhu |P GKJFBFXDZXWX

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 1987

• 215 __ |a 395页 |c 图 |d 19cm

• 225 1_ |a 材料科学及测试技术丛书

• 300 __ |a 附录

• 320 __ |a 有书目

• 540 __ |a 分辨 |A Fen Bian

• 540 __ |a 分析 |A Fen Xi

• 540 __ |a 电子 |A Dian Zi

• 540 __ |a 显微学 |A Xian Wei Xue

• 540 __ |a 高空间 |A Gao Kong Jian

• 690 __ |a TN153 |v 2

• 701 _0 |a 叶恒强 |A Ye Heng Qiang |4 等编著

• 701 _0 |a 王仁卉 |A Wang Ren Hui |4 等编著

• 701 _0 |a 朱静 |A Zhu Jing |4 等编著

• 801 _0 |a CN |b BAU |c 19931220

• 901 __0193017369

• 905 __ |a CAU |d TN153/8

• 907 __ |a BAU |d TN153 |e 8 |f TN153/8 |b 508075-6

• 915 __ |a BAU |b yang |c yang |d yang |e zhu

• 986 __ |a 033892 |b 三层 |d 0.0 |f |h 508075 |j TN153/8 |s |a 009518 |b 三层 |d 0.0 |f |h 508076 |j TN153/8 |