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• 200 1_ |a 微纳米MOS器件可靠性与失效机理 |A wei na miM OS qi jian ke kao xing yu shi xiao ji li |f 郝跃, 刘红侠著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2008

• 215 __ |a 446页 |c 图 |d 25cm

• 225 2_ |a 半导体科学与技术丛书 |A ban dao ti ke xue yu ji shu cong shu

• 300 __ |a 国家科学技术学术著作出版基金资助出版

• 320 __ |a 有书目

• 410 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书

• 606 0_ |a 纳米材料 |A na mi cai liao |x 微电子技术 |x 电子器件 |x 研究

• 690 __ |a TN4 |v 4

• 701 _0 |a 刘红侠 |A liu hong xia |4 著

• 701 _0 |a 郝跃 |A hao yue |4 著

• 801 _0 |a CN |b CAU |c 20081015

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