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• 200 1_ |a 集成电路系统设计、验证与测试 |A ji cheng dian lu xi tong she ji 、 yan zheng yu ce shi |f (美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著 |g 陈力颖, 王猛译

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2008

• 215 __ |a xiv, 475页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 集成电路EDA技术 |A ji cheng dian lu eda ji shu

• 314 __ |a 责任者Scheffer规范汉译姓: 谢弗 ; 责任者Lavagn规范汉译姓: 拉瓦尼奥 ; 责任者Martin规范汉译姓: 马丁

• 320 __ |a 有书目

• 410 _0 |1 2001 |a 集成电路EDA技术

• 517 1_ |a 集成电路系统设计验证与测试 |A ji cheng dian lu xi tong she ji yan zheng yu ce shi

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 电路设计

• 690 __ |a TN402 |v 4

• 701 _1 |a 拉瓦尼奥 |A la wa ni ao |g (Lavagno, Luciano) |4 著

• 701 _1 |a 马丁 |A ma ding |g (Martin, Grant) |4 著

• 701 _1 |a 谢弗 |A xie fu |g (Scheffer, Louis) |4 著

• 702 _0 |a 王猛 |A wang meng |4 译

• 702 _0 |a 陈力颖 |A chen li ying |4 译

• 801 _0 |a CN |b CAU |c 20090225

• 901 __012009002892

• 905 __ |a CAU |d TN402/13

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