机读格式显示(MARC)

• 000 01276nas0 2200361 450

• 000 0900002622

• 001 0000335985

• 005 20090112140225.0

• 091 __ |a CN12-1135

• 099 __ |a CAL 112000172176

• 100 __ |a 19930602a19839999ekmy0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 120000

• 106 __ |a r

• 110 __ |a ahaz 0xx0

• 200 1_ |a 动态分析与测试技术 |A Dong Tai Fen Xi Yu Ce Shi Ji Shu |d = Journal of dynamic analysis and technique of measurement and test |f 天津市设备诊断动态分析中心等主办 |z eng

• 207 _0 |a 1983,no.1(1983,5)～1983,no.3(1983,12) = [总1～3] |a 1984,no.1(1984,3)～ = 总4～

• 210 __ |a 天津 |c 天津市中环电子仪器公司 |d 1983～

• 215 __ |a v. |d 26cm

• 300 __ |a 根据1983, no.2 著录

• 326 __ |a 季刊 |b 1983-

• 345 __ |a 天津市和平区吴家窑2号50号 邮码:300070

• 510 1_ |a Journal of dynamic analysis and technique of measurement and test |z eng

• 606 0_ |a 动态测试

• 606 0_ |a 动态分析

• 690 __ |a TB |v 4

• 690 __ |a TN |v 4

• 711 02 |a 天津市设备诊断动态分析中心 |A Tian Jin Shi She Bei Zhen Duan Dong Tai Fen Xi Zhong Xin |4 主办

• 801 _0 |a CN |b CAU |c 20041027

• 901 __112004000398

• 905 __ |a CAU |d TN/10#1

• 907 __ |a CAU |f TN/10 |y 1986-1997

• 999 _0 |a CN |b CAU |c 20041027 |t C |Z syj |z 20041027 09:48:28 |M syj |m 20090112 14:02:2