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MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：49

题名/责任者:
Secondary ion mass spectrometry, SIMS-II : proceedings of the Second International Conference on Secondary IonMassSpectrometry (SIMS II), Stanford University, Stanford, California, USA, August 27-31, 1979 / editors, A. Benninghoven...[et al.].
出版发行项:
New York : Springer-Verlag, 1979.
载体形态项:
xiii, 298 p. : ill. ; 24 cm.
丛编题名:
Springer series in chemical physics ; 9
会议名称:
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, 2d, Stanford University, 1979.
附加个人名称:
Benninghoven, A.
论题主题:
Secondary ion mass spectrometry-Congresses.
中图法分类号:
O657.6-53
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
随书光盘:
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
O657.6-53/ICS/(1979) 145981   西区4层      可借
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