MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：95
- 题名/责任者:
- 集成电路系统设计、验证与测试/(美) Louis Scheffer, Luciano Lavagno, Grant Martin著 陈力颖, 王猛译
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2008
- ISBN及定价:
- 978-7-03-021490-4/CNY62.00
- 载体形态项:
- xiv, 475页:图;26cm
- 其它题名:
- 集成电路系统设计验证与测试
- 丛编项:
- 集成电路EDA技术
- 个人责任者:
- 拉瓦尼奥 (Lavagno, Luciano) 著
- 个人责任者:
- 马丁 (Martin, Grant) 著
- 个人责任者:
- 谢弗 (Scheffer, Louis) 著
- 个人次要责任者:
- 王猛 译
- 个人次要责任者:
- 陈力颖 译
- 学科主题:
- 集成电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN402
- 责任者附注:
- 责任者Scheffer规范汉译姓: 谢弗 ; 责任者Lavagn规范汉译姓: 拉瓦尼奥 ; 责任者Martin规范汉译姓: 马丁
- 书目附注:
- 有书目
- 随书光盘:
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN402/13 | 00952194 |  东3层4区
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可借 | |
| TN402/13 | 00952195 | 东3层4区
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可借 |
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